盛驰抄板案例之介质损耗及介电常数测试仪

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

主要技术指标
1．频率范围及刻度误差
范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2%
1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz
1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz
1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz
1.7：25~50MHz；
2．Q值测量范围及误差
范围：5~500
误差：
1）当频率从5~25KHz
量程5~50 +5%
量程15~150 +5%
量程50~500 +7%
2）当频率从25~50MHz，所有量程均为+10%
3）△Q范围：-25 ~ 0 ~ +25。
3．电感测量范围及误差
范围：0.1μH~100mH
误差：+5%+0.01μH
4．试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时）
Φ25~35mm（ε=12~30时）
Φ15~20mm（ε>30时） 
天津PCB抄板涉足电子设备仿制领域已近十年，迄今已有数千套设备技术为吾所破，并成功在该设备领域跻身至主导地位。目前，盛驰科技提供上述产品的全套技术资料，并同时承接仿制克隆与二次开发项目合作，有意者请致电咨询详情。